納米粒度及Zeta電位分析儀使用優(yōu)化的反演算法，使得測量結果準確度高、重復性好，還可與多功能自動滴定系統(tǒng)相連接，配合強大易用的控制軟件，獲得納米顆粒粒徑和Zeta電位隨pH值、添加劑濃度及溫度變化的趨勢。軟件還具有一鍵式SOP測量功能，無需用戶干預，自動調整散射光、自動優(yōu)化光子相關器參數，以適應不同樣品，是測量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選。
納米粒度及Zeta電位分析儀顆粒粒度測量的性能特點：
1.高效的光路系統(tǒng)：采用固態(tài)激光器和一體化光纖探頭搭建而成的光路滿足空間相干性的要求，提高了散射光信號的信噪比，激光器波長為532nm，最大功率50mW。
2.高靈敏度光子探測器：采用計數型光電倍增管，對光子信號具有*的靈敏度和信噪比；采用邊沿觸發(fā)模式對光子進行計數，瞬間捕捉光子脈沖的變化。
3.大動態(tài)范圍高速光子相關器：采用以高、低速通道搭配的結構設計光子相關器，有效解決了硬件資源與通道數量之間的矛盾，實現了大的動態(tài)范圍，并保證了相關函數基線的穩(wěn)定性。
4.高精度溫控系統(tǒng)：基于半導體制冷裝置，采用自適應PID控制算法，樣品池溫度控制范圍為0°~120°，精度達±0.1℃。
5.剔除灰塵的影響：引入分位數檢測異常值的方法，鑒別受灰塵干擾的散射光數據，并剔除異常值，提高粒度測量結果的準確度。
6.優(yōu)化的反演算法：采用優(yōu)化擬合累積反演算法計算平均粒徑以及多分散系數，基于非負約束正則化算法反演顆粒粒度分布，粒度測量范圍為0.3nm-15μm，測量結果的準確度和重復性均優(yōu)于1%。
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